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DS18B20
数字温度传感器,由于此传感器是
单总线接口,所以需要使用
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单片机的一个
IO
口模拟单总线时序与
DS18B20
通信,将检测的环境温度读取出来。开发板上集成了 1 个
DS18B20
温度传感器接口,需插上
DS18B20
温度传感器后才能测试温度。本节要实现的功能是:系统运行时,插上
DS18B20
温度传感器,数码管显示检测的温度值。
DS18B20
是由 DALLAS
半导体公司推出的一种的“一线总线(单总线)”接口的温度传感器。与传统的热敏电阻等测温元件相比,它是一种新型的体积小、适用电压宽、与微处理器接口简单的数字化温度传感器。
DS18B20
温度传感器具有如下特点:
3.0~5.5V
,在寄生电源方式下可由数据线供电。DS18B20
在与微处理器连接时仅需要一条口线即可实现微处理器与 DS18B20
的双向通讯。DS18B20
支持多点组网功能,多个 DS18B20
可以并联在唯一的三线上,实现组网多点测温。DS18B20
在使用中不需要任何外围元件,全部传感元件及转换电路集成在形如一只三极管的集成电路内。-55℃~+125℃
,在-10~+85℃
时精度为±0.5℃
9~12
位,对应的可分辨温度分别为 0.5℃
、0.25℃
、0.125℃
和0.0625℃
,可实现高精度测温。9
位分辨率时最多在 93.75ms
内把温度转换为数字,12
位分辨率时最多在 750ms
内把温度值转换为数字,速度更快。CPU
,同时可传送 CRC
校验码,具有极强的抗干扰纠错能力。 DS18B20
外观实物如下图所示:
从 DS18B20
外观图可以看到,当我们正对传感器切面(传感器型号字符那一面)时,传感器的管脚顺序是从左到右排列。管脚 1
为 GND
,管脚 2
为数据DQ
,管脚 3
为 VDD
。如果把传感器插反,那么电源将短路,传感器就会发烫,很容易损坏,所以一定要注意传感器方向,通常我们在开发板上都会标出传感器的凸起出,所以只需要把传感器凸起的方向对着开发板凸起方向插入即可。
DS18B20
内部结构如下图所示:
ROM
中的 64
位序列号是出厂前被光刻好的,它可以看作是该 DS18B20
的地址序列号。64
位光刻 ROM
的排列是:开始 8 位(28H)是产品类型标号,接着的 48 位是该 DS18B20
自身的序列号,最后 8 位是前面 56 位的循环冗余校验码。光刻 ROM
的作用是使每一个 DS18B20
都各不相同,这样就可以实现一根总线上挂接多个 DS18B20
的目的。
DS18B20
温度传感器的内部存储器包括一个高速的暂存器 RAM
和一个非易失性的可电擦除的 EEPROM
,后者存放高温度和低温度触发器 TH
、TL
和配置寄存器。
配置寄存器是配置不同的位数来确定温度和数字的转化,配置寄存器结构如下:
TM R1 R0 1 1 1 1 1
低五位一直都是"1"
,TM
是测试模式位,用于设置 DS18B20
在工作模式还是在测试模式。在 DS18B20
出厂时该位被设置为 0,用户不需要去改动。R1
和R0
用来设置 DS18B20
的精度(分辨率),可设置为 9,10,11 或 12 位,对应的分辨率温度是 0.5℃,0.25℃,0.125℃和 0.0625℃。R0
和 R1
配置如下图:
在初始状态下默认的精度是 12 位,即 R0=1
、R1=1
。
高速暂存存储器由 9 个字节组成,其分配如下:
当温度转换命令(44H
)发布后,经转换所得的温度值以二字节补码形式存放在高速暂存存储器的第 0 和第 1 个字节。存储的两个字节,高字节的前 5 位是符号位 S
,单片机可通过单线接口读到该数据,读取时低位在前,高位在后,数据格式如下:
如果测得的温度大于 0,这 5 位为‘ 0’,只要将测到的数值乘以 0.0625(默认精度是 12 位)即可得到实际温度;如果温度小于 0,这 5 位为‘ 1’,测到的数值需要取反加 1 再乘以 0.0625 即可得到实际温度。温度与数据对应关系如下:
比如我们要计算+85
度,数据输出十六进制是 0X0550
,因为高字节的高 5 位为 0,表明检测的温度是正温度,0X0550
对应的十进制为 1360
,将这个值乘以 12 位精度 0.0625,所以可以得到+85
度。
知道了怎么计算温度,接下来我们就来看看如何读取温度数据,由于 DS18B20
是单总线器件,所有的单总线器件都要求采用严格的信号时序以保证数据的完整性。DS18B20
时序包括如下几种:初始化时序、写(0 和 1)时序、 读(0
和 1)时序。 DS18B20
发送所有的命令和数据都是字节的低位在前。这里我们简单介绍这几个信号的时序:
480us
(该时间的时间范围可以从 480 到 960 微妙),以产生复位脉冲。接着主机释放总线,外部的上拉电阻将单总线拉高,延时 15~60 us
,并进入接收模式。接着 DS18B20
拉低总线 60~240 us
,以产生低电平应答脉冲,若为低电平,还要做延时,其延时的时间从外部上拉电阻将单总线拉高算起最少要480
微妙。初始化时序图如下:60us
,且在 2 次独立的写时序之间至少需要 1us
的恢复时间,两种写时序均起始于主机拉低总线。写 1 时序:主机输出低电平,延时 2us
,然后释放总线,延时 60us
。写 0 时序:主机输出低电平,延时 60us
,然后释放总线,延时 2us
。写时序图如下:60us
,且在 2 次独立的读时序之间至少需要 1us
的恢复时间。每个读时序都由主机发起,至少拉低总线 1us
。主机在读时序期间必须释放总线,并且在时序起始后的 15us
之内采样总线状态。读时序图如下:2us
,然后主机转入输入模式延时 12us
,然后读取单总线当前的电平,然后延时 50us
。DS18B20
的典型温度读取过程,DS18B20
的典型温度读取过程:复位→发 SKIP ROM
命令(0XCC
)→发开始转换命令(0X44
)→延时→复位→发送 SKIP ROM
命令(0XCC
)→发读存储器命令(0XBE
)→连续读出两个字节数据(即温度)→结束。本实验使用到硬件资源如下:
动态数码管电路在前面章节已介绍,这里就不再重复。下面来看下开发板上DS18B20
模块电路,如下图所示:
从上图可以看出,传感器接口的单总线管脚接至单片机 P3.7 IO
口上,在介绍单总线的时候我们说过,为了让单总线默认为高电平,通常会在单总线上接上拉电阻,在图中并没有看到有上拉电阻,这是因为单片机 IO
都外接了 10K
上拉电阻,当单片机 IO
口连接到传感器的总线管脚时即相当于它们外接上拉电阻,所以此处可以省去。
本节所要实现的功能是:插上 DS18B20
温度传感器,数码管显示检测的温度值。
程序框架如下:
编写公共文件
打开public.c
,代码如下:
#include "public.h" /* 函 数 名 : delay_10us 函数功能 : 延时函数,ten_us=1 时,大约延时 10us 输 入 : ten_us 输 出 : 无 */ void delay_10us(u16 ten_us) { while(ten_us--); } /* 函 数 名 : delay_ms 函数功能 : ms 延时函数,ms=1 时,大约延时 1ms 输 入 : ten_us 输 出 : 无 */ void delay_ms(u16 ms) { u16 i,j; for (i=ms;i>0;i--) { for (j=110;j>0;j--); } }
其头文件public.h
为:
/*
头文件作用如下:包含头文件,定义全局变量,声明函数
*/
#ifndef _public_H
#define
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