JTAG介绍_芯片调试接口

介绍

JTAG（Joint Test Action Group）是一种用于测试、调试和编程集成电路的标准接口和协议。

JTAG是一种物理接口标准，定义了一组引脚及其相应的电气和逻辑规范，用于在集成电路上执行测试、调试和编程等操作。

JTAG 接口由 IEEE 标准 1149.1 定义，最初是为了提供硬件测试功能而设计的，但后来也被广泛应用于调试和编程。

JTAG可作为连接Host端GDB和Device的接口协议，方便用户在Host端调试硬件设备。

应用领域

测试（Test）： JTAG 最初的设计目的是为了提供一种标准接口，通过该接口可以在集成电路制造和测试过程中执行硬件测试。通过 JTAG 接口，可以将测试模式应用于目标设备，以检测和修复硬件缺陷。

调试（Debug）： JTAG 接口在调试过程中的应用越来越广泛。通过 JTAG 接口，开发人员可以访问目标设备中的内部状态、寄存器和内存，实现非侵入性调试。这种调试方式通常被称为 “JTAG 调试”。

编程（Programming）： JTAG 接口还可用于编程目标设备的可编程器件，如 FPGA（现场可编程门阵列）和 CPLD（可编程逻辑器件）。

Boundary Scan： JTAG 引入了一种称为 “Boundary Scan” 的特殊测试模式。Boundary Scan 允许通过 JTAG 接口连接的设备在测试期间检查其与相邻设备之间的连接状态。

Flash 程序烧录： JTAG 接口也广泛用于通过编程器件的 JTAG 端口对 Flash 存储器进行编程烧录。

处理器调试： 在处理器调试方面，JTAG 接口允许开发人员通过调试器连接到处理器的 JTAG 端口，以进行源代码级的调试。

引脚

TCK（Test Clock）： 时钟引脚，用于同步测试和调试操作。

TMS（Test Mode Select）： 模式选择引脚，用于控制 JTAG 状态机的状态。

TDI（Test Data Input）： 数据输入引脚，用于输入测试或调试数据。

TDO（Test Data Output）： 数据输出引脚，用于输出测试或调试结果。

使用这些引脚，可以控制目标设备的状态、输入测试数据和读取测试结果。

除了这些主要引脚之外，JTAG 还可能包括其他引脚，如 TRST（Test Reset）用于复位测试逻辑，以及可能的供电引脚等。

总结

JTAG 接口可以在多种设备上找到，包括微处理器、微控制器、FPGA、CPLD 等可编程器件。

这个接口提供了一种标准的方式，通过它可以进行硬件测试、调试和编程，而无需直接访问设备的内部电路

JTAG 通常由硬件调试器或编程器使用，用于连接到目标设备的 JTAG 端口，以便进行调试或烧录操作。