FPGA使用ISERDES2过采样

概述

问题：
A时钟域发出数据，B时钟与去采样，A与B是异步的，
如何保证采样的位置远离数据变化的位置？
下面文档推荐了一种过采样方法。
xapp523
假设前提：
输入数据是0.5 CLK0时钟周期变化1次。
FPGA内部可以产生4倍频率的时钟去采样，但是时序要求太高。
于是想到采用将时钟移相来采样。
CLK0 ：移动0度。
CLK90 ：移动90度。
CLK180：移动180度。
CLK270：移动270度。
数据采用延时来实现移相45度。
这样组合起来，将1个时钟周期分成了8份：
0,、45、90、135、180、225、270和315
为了稳定的采样到输入数据，先要知道数据的边沿落在哪个相位区间，
例如数据变化沿在0-45区间，那么采样的点在90、135是合适的。
例如数据变化沿在45-90区间，那么采样的点在0、135是合适的。
例如数据变化沿在90-135区间，那么采样的点在0、45是合适的。
例如数据变化沿在135-180区间，那么采样的点在45、90是合适的。
如果数据在传输过程变化区间不会变化，那么只要校准一次采样位置。
当数据的采样点需要变化，在变化过程中会产生采样点的切换，切换周围可能会丢失bit。这是难点。

系统结构

xilinx推荐用下图系统结构实现过采样。

ISERDESE2模块

下图是ISERDESE2模块的内部实现：

DRU相关

下图是数据流的采样点与比较点：


图中标记的解释：
Qx [M or S]x
Qx = the ISERDESE2 outputs Q1, Q2, Q3, or Q4
Mx or Sx =Qx的源是Mx还是Sx； the source ISERDESE2 (M = master, S = slave) of the data outputs (Qx)
其中
M :表示没延时45度。
Q1、Q2中的下标1、2是什么含义？—表示哪个时钟沿采样的。
CLK0 采样的数据下标是1；
CLK90 采样的数据下标是3；
CLK180采样的数据下标是2；
CLK270采样的数据下标是4；
M1、M2中的下标1、2是什么含义？
下标是时钟周期的序号。相同下标表示是同一个周期内的数据。
例如：Q1M1
在CLK0采样Master（没延时45度）的数据输出。

目的是找到数据的变化沿的范围。
E4[0:3]
手册上看的有点迷茫，下图可能会更加清晰一点。

在这一点上，应该很清楚数据是如何进入FPGA，然后馈送到DRU的用于边缘检测。DRU的下一步是处理比较数据。这很简单状态机，基于数据边缘所在的位置及其移动到的位置，然后选择远离数据边缘的采样点。

Bit Skip

采样点右移：原先采样点左侧一个时隙有跳变了。
采样点左移：原先采样点右侧一个时隙有跳变了。

采样点右移

例子1:
当原先是90度采样，原先数据变化在E4[0]，加入现在数据变化在E4[1]，那么再用90度采样不合适了，得用135度或者0度采样，暂时定为135度来分析，因为0度移动了2个位置，不方便分析。
例子2：
状态机原先是10状态采样135，,Q3 \Q7有效，当E4[2]==1，状态变化到00，转换成0度Q0、Q4有效。
在检测到原先采样点左侧时隙存在跳变时，此时状态机还在10，没跳,00，数据已经采样了，数据可能存在无效。当到达下一状态00的第一拍，这个bit 是10采样的，需要丢弃。这称为负位跳过。负位跳过每个时钟输出五位。

参考
https://blog.csdn.net/haoxingheng/article/details/50320145
https://blog.csdn.net/leixj025/article/details/109810241
https://blog.csdn.net/qq_41332806/article/details/109863482