赞
踩
在ISO 26262标准中,以功能安全管理(Management of functional safety)、汽车产品设计开发的安全生命周期(Safety lifecycle)及分析定义汽车安全完整性等级(Automotive Safety Integrity Level, ASIL)为主要规范。此标准以项目定义及风险分析来评估系统所需达到的ASIL安全等级目标。本文将介绍ISO 26262标准所规范的系统功能安全的开发概念,并以一个微控制器分析案例来展示ISO 26262在实际设计上的应用。
ISO 26262 涵盖了从管理、开发、生产、经营、服务维修至报废回收,每个阶段均规定了执行的方法与步骤。ISO 26262 采用安全程度等级ASILs (Automotive Safety Integrity Levels)来评判系统需要符合的功能安全程度。ASIL等级程度由ASIL A至ASIL D,其中以等级A为最低,等级D为最高。ASIL等级越高,其系统功能安全要求及目标就越严格。
此规范由IEC 61508[2]为基础,针对车辆电子及电机系统的功能安全进行修改,从而规范化的产品设计开发流程是以V模型设计验证模型来呈现。
下列为ISO 26262安全流程的各章节名称[1]:
Part 1 : 名词解释(Vocabulary)
Part 2 : 功能安全管理(Management of functional safety)
Part 3 : 概念阶段 (Concept phase)
Part 4 : 产品开发:系统层级(Product development: system level)
Part 5 : 产品开发:硬件子系统层级(Product development: hardware level)
Part 6 : 产品开发:软件子系统层级(Product development: software level)
Part 7 : 生产与操作使用(Production and operation)
Part 8 : 支援流程(Supporting processes)
Part 9 : ASIL等级界定与安全达成度的分析(ASIL-oriented and safety-oriented analyses)
Part 10 : ISO 26262 指南(Guideline)
而在这些章节中,又以三大阶段为主要重点,如图2所示:
在ISO 26262的规范中,微控制器芯片的安全性需求(Safety Requirement)是由一级供货商(Tier 1)根据其应用的风险评估来制定,并提供给芯片开发商,后者再依照安全性需求来研发微控制器芯片。然而目前台湾汽车电子产业中缺乏一级供货商,微控制器芯片开发商若不想依靠国外一级供货商提供安全性需求的相关规格,ISO 26262还提供了另外一条可行的开发流程,称之为SEooC (Safety Element out of Context),其流程图如下图3所示[4]:
在缺乏一级供货商的情况下,ISO 26262规范允许二级供货商自行假设其应用,并扮演一级供货商的角色:包括产品定义、根据执行风险评估(Hazard Analysis and Risk Assessment,HARA)来决定其应用的车辆安全完整性等级(ASIL)、制定系统层级的安全目标(Safety Goal)和功能安全需求(Functional Safety Requirement, FSR)以及功能安全技术实现需求(Technical Safety Requirement, TSR)等。根据TSR就可以再进一步制定出硬件安全需求(Hardware Safety Requirement, HSR),工程师就可以依据HSR来开发微控制器芯片。(但需特别注意的是,制定的所有安全目标以及安全需求都须经过第三方单位的认证。)
上图4为常见的汽车电子产品的V模型开发流程。由图4可知,安全分析主要从芯片研发初期时就必须进行,才能为安全机制的设计提供最好的依据。在ISO 26262规范中建议的安全分析方法主要有FMEA(Failure Mode and Effect Analysis)、FTA(Fault Tree Analysis)以及FMEDA(Failure Mode Effect and Diagnostic Analysis)三种。
三种分析方法都有其不同的目的,FMEA主要是用于列出MCU内组件有哪些可能的失效模式,以及这些失效模块对MCU的影响;FTA则是列出导致MCU失效的原因主要是由于哪个/哪些组件出错所导致;而FMEDA主要是用来分析不同的安全机制对于各种不同的组件失效模式的有效性。针对MCU硬件设计的开发商来说,FMEDA尤其重要,因为在ISO 26262规范中,FMEDA是用来评判MCU硬件能否达到ASIL要求的主要依据之一。第4章将会有MCU FMEDA的实例展示。
软件的验证从基于模型的软件验证到源代码的静态分析(Static Analysis),以及动态分析(Dynamic Analysis)来验证软件设计的安全性。静态分析常用MISRA C or C++来检查是否违背安全设计法则,常见的动态分析包括白盒测试(White Box testing)和比对测试(Back-to-Back testing),如图6所示。
软件的测试度量(Metrics)标准要求须符合单元测试涵盖(Coverage)如语句(Statement)、分支(Branch)、修订的条件/判定覆盖(Modified Condition/Decision Coverage以及集成测试(Integration Test),如功能涵盖率(Function Coverage)、呼叫功能涵盖率(Call Coverage),如图7所示。
图8是资通所自主研发的汽车微控制器架构图,其主要应用为电动车马达的控制,故此微控制器须能符合高安全性的要求。在此我们将此微控制器的安全性要求设为ASIL D。而根据表1可知其各项相关参数的量化标准。
表1 ISO 26262 ASIL量化標準
表1中SPFM是Single Point Fault Metrics的缩写,代表的是对于单点错误的容错能力。而LFM则是Latent-multiple-point Fault Metrics 的缩写,代表的则是对于多点错误的容错能力。最后PMHF则是Probabilistic Metrics for Hardware Failure的缩写,即所谓的硬件失效率,单位为FIT(Failure In Time)。下表2是图8汽车微控制器在未加入安全机制前的硬件失效率。
由表2可知,其硬件失效率高达725,与ASIL-D的要求还有很大的差距。分析此差距是加入安全机制时非常必要的事前工作,可以让设计者在决定采用何种安全机制时能够有所依据,尽量避免不适当设计的产生。为了达成ASIL-D的要求,势必要加入安全机制(Safety Mechanism)来提升微控制器的安全性,而ISO 26262对于ASIL-D的硬件设计有非常高的要求(如表1),任何克服故障的方法都必须有赖于故障的侦测与诊断机制。一般来说,诊断机制的故障诊断率越高,也代表微控制器的安全性越高。
因此高安全性反映在硬件设计上即代表安全机制需要非常高的故障诊断率(Diagnostic Coverage,DC)。DC值在ISO 26262中可分为high(99%)、medium(90%)、与low(60%)三种等级,表3列出ISO 26262 part 5 所提供的微控制器安全机制参考设计,这些安全机制都具有99%的DC值,欲达成ASIL-D的要求,建议加入这些具有高故障诊断率的安全机制到微控制器设计中。
表3 MCU Failure Rate
下图9是参考上表3之后,将图8微控制器进一步改良之后的架构图。比较图8与图9可以发现,加入安全机制后整体架构图的改变。为了验证加入的安全机制,可以使微控制器的整体故障率达到ASIL-D的要求,在此我们采用了FMEDA方法来分析,下表4 是针对此架构所进行的FMEDA的部分结果展示[4]。
根据FMEDA的分析结果,改良后的微控制器的硬件失效率可降至9.45FITs,已符合ASIL D的< 10 FITs的要求。由上述实例展示可知,为了要达成高安全性微控制器的设计,在架构设计时就必须将安全性的议题纳入考虑。这无疑会使原有的设计周期所需花费的时间变长,也会增加额外的人力与软硬件投入。然而因为汽车微控制器芯片与人身生命安全有重大关联,这些投资是不可避免的。若将来台湾的IC设计产业想扩大汽车电子产品的市场,势必要将以往只考虑成本与出货时间的观念加以调整。
在本文中,针对汽车电子产业目前主要依循的功能安全规范ISO 26262,提供了整体概念与其核心精神的介绍。另外针对ISO 26262中较为特别的SEooC设计概念也有所涉及。针对软件安全性设计的部分,则是介绍了其测试项目以及与V模型开发流程之间的整合关系。最后则是利用资通所本身所开发的微控制器作为展示案例,说明ISO 26262安全标准的实际应用。本文最主要的目的是让国内相关产业界能够对ISO 26262有初步认识,并且分享作者针对功能安全设计的研究成果与心得,期望能对国内汽车电子产业提供有用的参考数据。
吕昆龙
信息与通讯研究所/生医与工业积体电路技术组/车用电子设计应用部/工程师。AFSP(Automotive Functional Safety Professional)Certification from SGS-TÜV。专长为容错架构设计、可靠度模型、错误注入与可靠度验证、功能安全性分析与设计。
E-mail: sone@itri.org.tw
张国梁
SGS功能安全主任及台湾区负责人,AFSE(Automotive Functional Safety Expert)Certification from SGS-TÜV,专长为医疗与汽车电子软件功能安全分析验证。
E-mail: Jeff-tw.Chang@sgs.com
黄立仁
信息与通讯研究所/生医与工业积体电路技术组/组长。AFSP(Automotive Functional Safety Professional)Certification from SGS-TÜV。专长为模拟/混和讯号IC设计、车规IC设计、功能安全性分析与设计、超大型积电电路测试。
E-mail: lrhuang@itri.org.tw
纪坤明
信息与通讯研究所/生医与工业积体电路技术组/车用电子设计应用部/资深工程师兼副经理。专长为数字VLSI设计、EDA设计流程整合、功能安全性分析与设计。
E-mail: digo@itri.org.tw
张雍昌
信息与通讯研究所/生医与工业积体电路技术组/车用电子设计应用部/ 工程师。AFSP(Automotive Functional Safety Professional)Certification from SGS-TÜV。专长为芯片网络容错架构设计、功能安全性分析与设计。
E-mail: ycchangs@itri.org.tw
杨智仁
信息与通讯研究所/生医与工业积体电路技术组/车用电子设计应用部/ 工程师。AFSP(Automotive Functional Safety Professional)Certification from SGS-TÜV。专长为微控制器容错架构设计、功能安全性分析与设计、软硬件协同验证。
E-mail: Jeff.Yang@itri.org.tw
赞
踩
Copyright © 2003-2013 www.wpsshop.cn 版权所有,并保留所有权利。