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【数字IC手撕代码】Verilog模三检测器(判断输入序列能否被三整除)|题目|原理|设计|仿真_输入为8位二进制数,能否被3整除verilog

输入为8位二进制数,能否被3整除verilog
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一、前言

本系列旨在提供100%准确的数字IC设计/验证手撕代码环节的题目,原理,RTL设计,Testbench和参考仿真波形,每篇文章的内容都经过仿真核对。快速导航链接如下:

1.奇数分频
2.偶数分频
3.半整数分批
4.小数/分数分频
5.序列检测器
6.模三检测器
7.饮料机
8.异步复位,同步释放
9.边沿检测(上升沿,下降沿,双边沿)
10.全加器,半加器
11.格雷码转二进制
12.单bit跨时钟域(打两拍,边沿同步,脉冲同步)
13.奇偶校验
14.伪随机数生成器[线性反馈移位寄存器]
15.同步FIFO
16.无毛刺时钟切换电路

应当说,手撕代码环节是面试流程中既重要又简单的一个环节,跟软件类的岗位相比起来,数字IC的手撕代码题目固定,数量有限,属于整个面试中必得分的一个环节,在这个系列以外,笔者同样推荐数字IC求职者使用“HdlBits”进行代码的训练
链接如下
HDLBits — Verilog Practice

二、模三检测器题目

1.使用verilog代码,设计电路,判断输入序列能否被三整除,能的时候输出1,不能的时候输出0

三、模三检测器的原理

模三检测器的实质是一个判断输入序列的序列检测器
我们可以通过如下的推导过程来进行理解

一个输入被三除,对于余数来说只存在三种可能,分别为0,1,2(被整除,余数为1,余数为2),那么假如0,1,2对应于三种状态,加上IDLE的默认状态,我们需要四个状态,来表示模三检测器的状态机。

但是这里存在一个关键点

即输入序列是一边移位,一边输入,即假如第一位输入1,第二位输入0,在输入第二位的时候,当前输入序列表示为10,即先输入的1,移动到了输入序列的高位处了。

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这个移位为什么关键呢?

因为这个“第一位输入的1”假如在低位处,模三检测器的余数判断为1,但是假如到了高位,这个模三检测器的余数判断为2,这对于我们能否正确理解状态机的状态跳转有很大的帮助

具体的状态机转换是什么样子的呢?

当前态余数输入次态余数输出
0110
0001
1020
1101
2010
2120

第四行的状态变化再次帮助读者理解移位的奥妙,假如当前状态的余数是1,输入的同时,原序列左移,相当于余数翻倍变为2
此时假如data输入0,余数为2,data输入1,余数是0,可以整除。
这里的“当前态”即状态机中的“state”,“次态”即状态机的“next_state”,可以发现,模三检测器的本质,是一个结合了当前状态和输入序列,来判断输出的mealy型状态机

四、RTL设计

module mod3_check(clk,rst_n,data,test);

input clk;
input rst_n;
input data;
output test;

parameter IDLE =2'b00,
s1 =2'b01,
s2 =2'b10,
s3 = 2'b11;

reg [1:0] state,nstate;

always@(posedge clk or negedge rst_n)
begin
if(!rst_n)
state<=IDLE;
else
state<=nstate;
end


always@(*)
begin
case(state)
IDLE: nstate = data?s1:s3;
s1: nstate = data?s3:s2;
s2: nstate = data?s2:s1;
s3: nstate = data?s1:s3;
default nstate = IDLE;
endcase
end

assign test = state==s3?1:0;

endmodule

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五、Testbench设计

`timescale 1ns/1ps
module mod3_check_tb();
reg clk;
reg rst_n;
reg data;
wire test;

mod3_check u1(.clk(clk),.rst_n(rst_n),.data(data),.test(test));

always #5 clk = ~clk;
always #9.99 data = $random;
initial
begin
clk = 0;
rst_n = 1;
data = 0;
#14
rst_n = 0;
#37
rst_n = 1;
end

endmodule

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六、结果分析

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当clk上升沿到来时,首先采到了两个1,test结果输出为1,各状态之间的跳转正常,仿真正确。

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