当前位置:   article > 正文

IC后端设计中的shrink系数设置方法_工艺的shrink设置

工艺的shrink设置

ec53a51f8f0a46f09c5c94b98faa4d2b.png

b20cc16e4bba4029bbf904abbd05efc0.png

我正在「拾陆楼」和朋友们讨论有趣的话题,你⼀起来吧?

拾陆楼知识星球入口

2adddbd442974d34b7878047bbbfade4.png

在一些成熟的工艺节点通过shrink的方式(光照过程中缩小特征尺寸比例)得到了半节点,比如40nm从45nm shrink得到,28nm从32nm shrink得到,由于半节点的性能更优异,成本又低,漏电等不利因素也可以通过工艺参数调节,导致pre shrink的工艺节点无人问津,这篇文章我们仅统计在数字后端设计中scale factor的设置方法。

一般scale factor都是在RC model(itf、tluplus、nxtgrd等)文件中设置好的,但不排除一些工艺使用的与pre shrink工艺相同的规则文件,需要人为在后端环境中手动设置,RC model文件中设置好后,环境中

声明:本文内容由网友自发贡献,不代表【wpsshop博客】立场,版权归原作者所有,本站不承担相应法律责任。如您发现有侵权的内容,请联系我们。转载请注明出处:https://www.wpsshop.cn/w/小桥流水78/article/detail/836928
推荐阅读
相关标签
  

闽ICP备14008679号