用FPGA测试LPDDR颗粒及LPDDR的DIE好与坏

作者：Guff_9hys | 2024-08-16 12:21:28

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首先因为DDR的速度过快无法在DIE上进行高速的测试因为针头过小，并且是钢钨针，阻抗也是比较大，所以只能在低速情况下进行：

哪就要在用低速对测试DDR,筛选后，再进行封装后，再用高速平台对DDR二次测试。用FPGA对DDR的每一个CELL进行测试进行初次筛选，这个总结呢主要针对DDR的DIE初筛选的一些方法。主要在对DDR工作流程+所用的平台测试+测试相关算法进行总结归纳:

1-DDR工作流程，要对DDR进行测试，首先就要对DDR工作流程进行梳理，才能为后面测试。MR设置，读，写，刷新。接下主要针对这几个动作展说明

2-平台测试：主要是如何实现的用哪些硬件及软件

3-测试相关算法，主要针对目前行业的一些通用测试算法进行总结

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