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JTAG(Joint Test Action Group,联合测试行动小组)是一种国际标准测试协议(IEEE 1149.1兼容),主要用于芯片内部测试。
现在多数的高级器件都支持JTAG协议,如ARM、DSP、FPGA器件等。
标准的JTAG接口是4线:TMS、 TCK、TDI、TDO,分别为模式选择、时钟、数据输入和数据输出线。 相关JTAG引脚的定义为:
TMS:测试模式选择,TMS用来设置JTAG接口处于某种特定的测试模式;TMS信号在TCK的上升沿有效。TMS在IEEE1149.1标准里是强制要求的。TMS信号用来控制TAP状态机的转换。通过TMS信号,可以控制TAP在不同的状态间相互转换。
TCK:测试时钟输入;TCK为TAP的操作提供了一个独立的、基本的时钟信号,TAP的所有操作都是通过这个时钟信号来驱动的。
TDI:测试数据输入接口,数据通过TDI引脚输入JTAG接口;所有要输入到特定寄存器的数据都是通过TDI接口一位一位串行输入的(由TCK驱动)。
TDO:测试数据输出接口,数据通过TDO引 脚从JTAG接口输出;所有要从特定的寄存器中输出的数据都是通过TDO接口一位一位串行输出的(由TCK驱动)。
一般有10pin的、14pin的和20pin的,尽管引脚数和引脚的排列顺序不同,但是其中有一些引脚是一样的。值得注意的是,不同的IC公司会自己定义自家产品专属的Jtag头,来下载或调试程序。
JTAG经常使用排线连接,为了增强抗干扰能力,在每条信号线间加上地线就出现了这种20针的接口。但事实上,RTCK、USER IN、USER OUT一般都不使用,于是还有一种14针的接口。对于实际开发应用来说,由于实验室电源稳定,电磁环境较好,干扰不大。
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