ERPLAB脑电数据分析教程_erplab语法代码 csdn

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1、安装与预设

实战数据

2、背景概念

DataSet：被试数据导入EEGLAB称之为DataSet，各个预处理步骤会更新DataSet

ERPsets：对各个Bin对应的分段进行叠加平均，生成的平均ERP波形对应于一个ERPset。ERPset可以存储在磁盘上，包含了各种条件下的ERP波形

Bins：一种条件（或条件的组合）的刺激对应于一个Bin

3、ERPLAB处理数据的步骤

（1）导入数据（厂商的数据格式；EEGLAB自带格式；文本文档；.mat文件）

（2）定位电极（标准位置模板；自定义文件；手工查找位置）

（3）去除无用电极

BP：HEO, VEO

Neuroscan: HEO, VEO, CB1, CB2, Trigger

 （4）滤波

（5）降采样率

（6）创建EVENTLIST（是为了后面创建bin）

必须注意的是：在创建EVENTLIST时，实验过程中的所有MARK都要写入，以防后面建BIN出现问题。

有两种方法可以查看刚刚建立的list（可以用于检查，不是必须要操作的步骤）

第一种：在MATLAB命令窗口输入“EEG.EVENTLIST”，会出现如下内容

第二种：MATLAB的文本编辑器中直接打开创建好的文本文件(list.txt)。如下所示

（7）创建bin

打开的空白编辑器是这样的

但是建bin需要注意的地方有：

1、必须是在英文字符状态下编写。

2、bin编号必须从1开始，并且编号是连续的，如从bin1开始，按bin1，bin2，bin3的顺序往下写，不要间断。

3、写bin分为3步：第1行写bin的编号；第二行写一句话，用来描述该刺激条件；第3行写条件锁时和反应限制，并且“.”代表以哪个Mark为零点。

4、一般会有3种锁时情况：限刺激锁时；限刺激锁时的反应时间；限反应锁时。接下来一一列举。

限刺激锁时：

限刺激锁时的反应时间：

限反应锁时：

本手册中，示例数据的bin是这样写的

写完之后保存为bin.txt文件或者bin.m格式的文件

（8）分段和基线校正（基于bin进行分段）

（9）去坏段、替换坏导联

a) 去坏段

b) 插值坏导

（10）去伪迹成分（运行ICA；去伪迹成分） 

a) 运行ICA

否则ICA运行会终止！

运行完ICA对数据进行保存

b) 去伪迹成分（水平眼电、垂直眼电）

 把要删除的成分（水平眼电、垂直眼电等）打开，点击ACCEPT变成REJECT，再点OK。

（11）去除伪迹较大的分段（峰-峰检验；平均波幅检验；阶跃伪迹）

a) 以峰-峰检验为例

导出伪迹拒绝率

b) 以平均波幅为例

c) 阶跃伪迹

用峰-峰检验标记伪迹后，再做阶跃伪迹检验，在这个实验例子中，检测HEOG通道(通道16)中的水平眼动。

可以在EventList中查看伪迹信息，先把EventList导出

直接打开导出的文本文档，或者用Matlab文本编辑器打开文本文件，显示如下：

伪迹拒绝(a_flags)这一列，每个被拒绝的试次在这列最右侧会看到标识1。峰-峰检验中有些events设置了标识4。其他events在阶跃函数中设置了标识3，还有些events同时设置了标识3和标识4，表明这两种类型的伪迹都被检测到了。这一信息对于行为分析中排除特定伪迹的试次是有用的。

（12）重参考（双侧颞乳突参考；全脑平均参考）

a) 双侧颞乳突参考

b) 全脑平均参考

（13）计算平均ERPs

a) 单被试平均

b) 所有被试总平均

接下来把总平均的数据重命名，进行保存即可

（14）plot 波形图、地形图

a) plot ERP波形图

b) plot ERP地形图

（15）测量ERP指标

从ERPLAB中选择Load existing ERPset打开ERPset数据文件；如果已经加载了，就在ERPset菜单栏中选择它。

加载之后，在ERPLAB中选择ERP Measurement Tool

点击Viewer  

Create plot（导出的图形显示如下）

整个ERP Measurement Tool 设置完成后，点击RUN，对数据进行保存